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金屬電導率儀
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磁粉探傷儀
超聲波探傷儀
時代超聲波探傷儀
膜厚儀
漆膜硬度測試儀
電解膜厚儀
膜厚儀
涂層測厚儀
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氣體分析儀
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建工檢測儀器
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膜厚儀
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膜厚儀
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產(chǎn)品名稱/型號
產(chǎn)品簡單介紹
涂層膜厚儀
QuaNix 8500
涂層膜厚儀 德國尼克斯QuaNix 8500 膜厚儀: 1.高精度、大量程 2.一體化設計，可更換探頭 3.可選擇單點或兩點校準 4.中文操作菜單 5.背光液晶 6.數(shù)據(jù)無線傳輸
鍍層膜厚儀
QuaNix 1500M
鍍層膜厚儀 德國尼克斯QuaNix 1500M膜厚儀簡介及特點：德國Automation公司成立于1958年。長期以來一直致力于開發(fā)、研制、生產(chǎn)涂層測厚儀。早在公司創(chuàng)始人尼克斯（Dr.Nix）博士的父親即開始研究涂層測厚儀。自發(fā)明世界上臺測厚儀以來，尼克斯家族經(jīng)過幾代人的努力，為測厚儀領域做出了杰出貢獻。同時，也保持了技術。在儀器的精度和抗干擾性方面，注冊了多項
8829涂層測厚儀
CM-8829S
8829涂層測厚儀應用：用磁性傳感器測量鋼、鐵等鐵磁質(zhì)金屬基體上的非鐵磁性涂層、鍍層，例如：漆、粉末、塑料、橡膠、合成材料、磷化層、鉻、鋅、鉛、鋁、錫、鎘、瓷、琺瑯、氧化層等。用渦流傳感器測量銅、鋁、鋅、錫等基體上的琺瑯、橡膠、油漆、塑料層等。廣泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領域
涂鍍層膜厚儀
QuaNix 1500
涂鍍層膜厚儀 德國尼克斯QuaNix 1500膜厚儀簡介及特點：德國Automation公司成立于1958年。長期以來一直致力于開發(fā)、研制、生產(chǎn)涂層測厚儀。早在公司創(chuàng)始人尼克斯（Dr.Nix）博士的父親即開始研究涂層測厚儀。自發(fā)明世界上臺測厚儀以來，尼克斯家族經(jīng)過幾代人的努力，為測厚儀領域做出了杰出貢獻。同時，也保持了技術。在儀器的精度和抗干擾性方面，注冊了多項
涂層膜厚儀
QuaNix 1200
涂層膜厚儀 德國尼克斯QuaNix 1200膜厚儀簡介及特點：德國Automation公司成立于1958年。長期以來一直致力于開發(fā)、研制、生產(chǎn)涂層測厚儀。早在公司創(chuàng)始人尼克斯（Dr.Nix）博士的父親即開始研究涂層測厚儀。自發(fā)明世界上臺測厚儀以來，尼克斯家族經(jīng)過幾代人的努力，為測厚儀領域做出了杰出貢獻。同時，也保持了技術。在儀器的精度和抗干擾性方面，注冊了多項。
涂鍍層膜厚儀
TT210
涂鍍層膜厚儀TT210膜厚儀適用范圍： 本儀器采用了磁性和渦流兩種測厚方法，可無損地測量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性覆蓋層的厚度(如鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導電覆蓋層的厚度(如:橡膠、油漆、塑料、陽極氧化膜等)。
兩用膜厚儀
MPOR
德國菲希爾MPOR兩用膜厚儀MPOR涂層測厚儀為德國生產(chǎn)涂層測厚儀，MPOR涂層測厚儀集合了磁性測厚儀（P-MP0D）和渦流測厚儀（I-MP0D）兩種儀器的功能，是D-MP0D型儀器的改進型產(chǎn)品?？捎糜跍y量鐵基及非鐵基體上涂層的厚度。
X射線熒光鍍層膜厚儀
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237
德國菲希爾公司的X射線熒光鍍層膜厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237是一款較為的x射線鍍層測厚儀，測量所有金屬鍍層的厚度以及多鍍層或者合金成分分析，也可以進行電解溶液含量成份分析，帶有國家環(huán)保局豁免證書，無放射源設計，**環(huán)保。X射線熒光鍍層膜厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237主要測量和分析微小結構的印刷線路板、電氣元件及大規(guī)模生產(chǎn)的零部件上的鍍層。
菲希爾X射線測厚儀
X-RAY XUL
菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE®-X-RAY XUL是一款應用廣泛的能量色散型X射線熒光光譜儀，它結構緊湊，小巧耐用。它們十分適用于無損測量鍍層厚度和成分分析。菲希爾X射線測厚儀又名菲希爾膜厚儀|X射線膜厚儀|熒光膜厚儀，X-RAY XUL系列分為固定平臺的XUL和手動平臺XUL-xym
x射線熒光膜厚儀
X-RAY XDL 210
x射線熒光膜厚儀|x射線熒光測厚儀|x-ray膜厚儀FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL®是一款應用廣泛的能量色散型x 射線光譜儀。它是從大眾認可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B 型儀器上發(fā)展而來的。與上一代相類似，它尤其適合無損測量鍍層厚度及材料分析，同時還能全自動測量大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板。
x射線膜厚儀
X-RAY XULM X-RAY XULM? XYm
x射線膜厚儀FISCHERSCOPE®-X-RAY XULM以及XULM® XYm是應用廣泛的能量色散型X射線熒光光譜儀，它結構緊湊，小巧耐用。它們十分適用于無損測量細小零部件上的鍍層厚度和成分分析。x射線膜厚儀又稱x-ray熒光分析儀或者x-ray膜厚儀
德國Surfix膜厚儀
PHYNIXSurfix-Pro-S
德國Surfix膜厚儀Pro-S專業(yè)級膜厚儀強大數(shù)據(jù)功能.分500組存1萬測值,可換8種碳化鎢超耐磨測頭測鐵基和有色金屬基上鍍層和涂層,分辨率0.1μm,帶軟件.探頭另購,根據(jù)所選探頭:精度可達±0.7μm+1%讀數(shù),或范圍可達10mm
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紫外線黑光燈應用舉例
熱式風速計KA22/31與升級換代產(chǎn)品KA23/33對比情況明細表
分析儀器國內(nèi)市場 從13%提50%
**儀器儀表研發(fā)思路 促進跨越式發(fā)展
討論國內(nèi)電工儀器儀表產(chǎn)品市場發(fā)展趨勢
儀器儀表行業(yè)快速發(fā)展
測厚儀涂料涂膜干膜厚度的測定
世界款帶溫度補償功能的銅箔測厚儀
TCK創(chuàng)造鋼絲繩無損檢測新技術
2008年我國無損檢測器材制造業(yè)發(fā)展趨勢
中國農(nóng)業(yè)大學研制出水果無損檢測儀器
專家提醒:奧運期間家庭裝修的注意事項
國務院檢查驗收組前往銅川聲威檢查礦產(chǎn)資源整合工作
中國新能源和可再生能源行業(yè)預計投資760億
弘揚抗震救災精神推動行業(yè)健康發(fā)展
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