菲希爾X射線測厚儀
FISCHERSCOPE® X-RAY XUL®
FISCHERSCOPE® X-RAY XUL® XYm X射線光譜儀，主要用于無損厚度測量和成分析。
菲希爾X射線測厚儀比例接收器能實現(xiàn)高計數(shù)率，這樣就可以進行高精度測量。由于采用了
XUL型X射線光譜儀有著良好的長期穩(wěn)定性，這樣就不需要經常校準儀器。
本款儀器特別適用于客戶進行質量控制、進料檢驗和生產流程監(jiān)控。
典型的應用領域有：
在小部件如螺釘、螺栓和螺帽上的測量
在連接器和電氣元件上的測量
電鍍液的溶液成分分析
菲希爾X射線測厚儀|菲希爾膜厚儀|X射線膜厚儀|熒光膜厚儀XUL、XUL-XYM設計理念
FISCHERSCOPE X-RAY XUL設計為界面友好、結構緊湊的臺式測量儀器系列。根據(jù)使用用途，有以下兩種不同版本型號，分別對應不同的樣品平臺：
XUL： 固定平面平臺
XUL XYm： 手動X/Y平臺
高分辨的彩色攝像頭配以強大的放大功能，可以定位測量位置。
盡管儀器本身結構緊湊，但是由于XUL光譜儀配備了寬敞的測量室，從而可以測量更大體積的樣品。
外罩底部留下了空隙，可方便地測量超出測量室大小的大尺寸扁平樣品，如大面積的印制線路板等。
通過強大而界面友好的WinFTM®軟件，可以在電腦上便捷地完成整個測量過程，包括測量結果的數(shù)據(jù)分析和所有相關信息的顯示等。
XUL型光譜儀是**而保護**的測量儀器，型式許可符合德國”Deutsche Röntgenverordnung-RöV”法令要求。
菲希爾X射線測厚儀|菲希爾膜厚儀|X射線膜厚儀|熒光膜厚儀XUL、XUL-XYM通用規(guī)范
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用途
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能量色散X射線熒光光譜儀 (EDXRF) 用于測量鍍層厚度和材料分析
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可測量元素范圍
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從氯（17）到鈾（92），如使用選配的WinFTM® BASIC，可多同時測量24種元素
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設計理念
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臺式儀器，測量門向上開啟
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測量方向
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由下往上
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菲希爾X射線測厚儀|菲希爾膜厚儀|X射線膜厚儀|熒光膜厚儀XUL、XUL-XYM之X射線源
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X射線靶材
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帶鈹窗口的鎢靶射線管
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高壓
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三種可調高壓：30 kV，40 kV，50 kV
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孔徑（準直器）
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圓形Ø 0.3mm ，（可選配置：矩形0.3 mm x 0.05 mm）
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測量點大小
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取決于測量距離和使用的準直器的大小，視頻窗口中顯示的就是實際的測量點尺寸，小的測量點面積約為Ø 0.51 mm。
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測量距離，如樣品為腔體時
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使用保護的DCM（測量距離補償法）功能：
測量距離為0 ~ 20 mm時，為已校準范圍；
測量距離為20 ~ 27.5 mm時，為非校準范圍。
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菲希爾X射線測厚儀|菲希爾膜厚儀|X射線膜厚儀|熒光膜厚儀XUL、XUL-XYM之X射線探測
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X射線接收器
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比例接收器
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二次濾波器
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可選：鈷濾波器或鎳濾波器
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菲希爾X射線測厚儀|菲希爾膜厚儀|X射線膜厚儀|熒光膜厚儀XUL、XUL-XYM樣品定位
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視頻顯微鏡
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高分辨率 CCD彩色攝像頭，可用來觀察測量位置 十字線帶有刻度尺和測量點指示裝置
測量區(qū)域的LED照明亮度可調節(jié)
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放大倍數(shù)
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38 x ~184x (光學變焦: 38x ~ 46x; 數(shù)字變焦: 1x, 2x, 3x, 4x)
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菲希爾X射線測厚儀|菲希爾膜厚儀|X射線膜厚儀|熒光膜厚儀XUL、XUL-XYM樣品臺
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樣品臺
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XUL
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XUL XYm
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設計
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固定樣品平臺
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手動XY平臺
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X/Y方向大可移動范圍
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-
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50 x 50 mm
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樣品放置可用區(qū)域
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250 x 280mm
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樣品大重量
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2kg
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樣品高度
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240mm
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菲希爾X射線測厚儀|菲希爾膜厚儀|X射線膜厚儀|熒光膜厚儀XUL、XUL-XYM電氣參數(shù)
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電壓，頻率
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AC 115 V 或 AC 230 V 50 / 60 Hz
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功率
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大為 120 W (測量頭重量，不包括計算機)
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保護等級
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IP40
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菲希爾X射線測厚儀|菲希爾膜厚儀|X射線膜厚儀|熒光膜厚儀XUL、XUL-XYM儀器規(guī)格
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外部尺寸
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寬x深x高[mm]：395 x 580 x 510
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重量
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約45 kg
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內部測量艙尺寸
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寬x深x高[mm]：360 x 380 x 240
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菲希爾X射線測厚儀|菲希爾膜厚儀|X射線膜厚儀|熒光膜厚儀XUL、XUL-XYM環(huán)境要求
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測量時溫度
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10°C – 40°C / 50°F – 104°F
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存儲或運輸時溫度
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0°C – 50°C / 32°F – 122°F
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空氣相對濕度
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≤ 95 %，無結露
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菲希爾X射線測厚儀|菲希爾膜厚儀|X射線膜厚儀|熒光膜厚儀XUL、XUL-XYM計算系統(tǒng)
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計算機
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帶擴展卡的Windows®個人計算機系統(tǒng)
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軟件
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標準配置：Fischer WinFTM® LIGHT
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可選配置：Fischer WinFTM® BASIC, PDM®, SUPER
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執(zhí)行標準
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CE合格標準
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EN 61010
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X射線標準
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DIN ISO 3497和 ASTM B 568
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型式許可
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型式許可符合德國”Deutsche Röntgenverordnung-RöV“法令要求的，有完善防護措施的測量儀器
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fischer X射線測厚儀|菲希爾膜厚儀|X射線膜厚儀|熒光膜厚儀XUL、XUL-XYM訂貨號
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FISCHERSCOPE X-RAY XUL
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603-029
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FISCHERSCOPE X-RAY XUL XYm
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603-131
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如有特殊要求，可與Fischer磋商，定制特殊的XUL型號。
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其他 相關儀器：鐵素體測量儀，高斯計，張力儀，扭力測量儀，沖擊試驗機，扭轉疲勞試驗機，電子萬能試驗機，彈簧試驗機，金屬電導率儀，人造板試驗機，車輛測試設備
