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膜厚測量儀

]資料
如果您對該產品感興趣的話,可以 產品名稱: 膜厚測量儀
產品型號: MiniTest2100
產品展商: 德國EPK
關注指數:2949
產品文檔: 無相關文檔
咨詢電話:0512-68050030
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簡單介紹
膜厚測量儀 德國EPKMiniTest2100膜厚儀德國EPK(Elektrophysik)公司涂鍍層膜厚儀MiniTest2100特點：MiniTest2100包括四種不同的主機，各自具有不同的數據處理功能；所有型號均可配所有探頭；可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機；可使用一片或二片標準箔校準

膜厚測量儀

   的詳細介紹
膜厚測量儀 德國EPK(Elektrophysik)公司 涂鍍層膜厚儀MiniTet2100技術特征
型號
1100
2100
3100
4100
MINITEST 存儲的數據量
應用行數(根據不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎數據數)
1
1
10
99
每個應用行下的組(BATCH)數(對組內數據自動統(tǒng)計計算，并可設寬容度極限值)
 
1
10
99
可用各自的日期和時間標識特性的組數
 
1
500
500
數據總量
1
10000
10000
10000
MINITEST統(tǒng)計計算功能
讀數的六種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar
 
√
√
√
讀數的八種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
 
 
√
√
組統(tǒng)計值六種x,s,n,max,min,kvar
 
 
√
√
組統(tǒng)計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
 
 
√
√
存儲顯示每一個應用行下的所有組內數據
 
 
 
√
分組打印以上顯示和存儲的數據和統(tǒng)計值
 
 
√
√
顯示并打印測量值、打印的日期和時間
 
√
√
√
其他功能
設置極限值
 
 
√
√
連續(xù)測量模式快速測量，通過模擬柱識別大小值
 
 
√
√
連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀數
 
 
√
√
連續(xù)測量模式中顯示小值
 
 
√
√
德國EPK(Elektrophysik)公司涂鍍層膜厚儀MiniTest2100可選探頭參數:

所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇適用的探頭時需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭：測量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭：測量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭：同時具備F型和N性探頭的功能
探頭
量程
低端
分辨率
誤差
小曲率半徑
(凸/凹)
小測量
區(qū)域直徑
小基
體厚度
探頭尺寸
磁
感
應
法
 
 
 
 
 
 
 
F05
0-500μm
0.1μm
±(1%±0.7μm)
1/5mm
3mm
0.2mm
φ15x62mm
F1.6
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
5mm
0.5mm
φ15x62mm
F1.6/90
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
平面/6mm
5mm
0.5mm
φ8x8x170mm
F2/90
0-2000μm
0.2μm
±(1%±1μm)
平面/6mm
5mm
0.5mm
φ8x8x170mm
F3
0-3000μm
0.2μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
5mm
0.5mm
φ15x62mm
F10
0-10mm
5μm
±(1%±10μm)
5/16mm
20mm
1mm
φ25x46mm
F20
0-20mm
10μm
±(1%±10μm)
10/30mm
40mm
2mm
φ40x66mm
F50
0-50mm
10μm
±(3%±50μm)
50/200mm
300mm
2mm
φ45x70mm
兩
用
 
 
 
FN1.6
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
5mm
F0.5mm/N50μm
φ15x62mm
FN1.6P
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
平面
30mm
F0.5mm/N50μm
φ21x89mm
FN2
0-2000μm
0.2μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
5mm
F0.5mm/N50μm
φ15x62mm
電
渦
流
法
 
 
 
 
 
 
 
 
 
N02
0-200μm
0.1μm
±(1%±0.5μm)
1/10mm
2mm
50μm
φ16x70mm
N.08Cr
0-80μm
0.1μm
±(1%±1μm)
2.5mm
2mm
100μm
φ15x62mm
N1.6
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
2mm
50μm
φ15x62mm
N1.6/90
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
平面/10mm
5mm
50μm
φ13x13x170mm
N2
0-2000μm
0.2μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
5mm
50μm
φ15x62mm
N2/90
0-2000μm
0.2μm
±(1%±1μm)
平面/10mm
5mm
50μm
φ13x13x170mm
N10
0-10mm
10μm
±(1%±25μm)
25/100mm
50mm
50μm
φ60x50mm
N20
0-20mm
10μm
±(1%±50μm)
25/100mm
70mm
50μm
φ65x75mm
N100
0-100mm
100μm
±(1%±0.3mm)
100mm/平面
200mm
50μm
φ126x155mm
CN02
10-200μm
0.2μm
±(1%±1μm)
平面
7mm
無限制
φ17x80mm
F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭，用于管內測量。
N.08Cr適合銅上鉻，FN2也適合銅上鉻。
CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層


其他 相關儀器：鐵素體測量儀，高斯計，張力儀，扭力測量儀，沖擊試驗機，扭轉疲勞試驗機，電子萬能試驗機，彈簧試驗機，金屬電導率儀，人造板試驗機，車輛測試設備

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