膜厚儀的介紹與特點

     膜厚儀,又叫膜厚計、膜厚測試儀,分為電渦流鍍層測厚儀、磁感應(yīng)鍍層測厚儀、熒光X射線儀鍍層測厚儀。采用磁感應(yīng)原理時,利用從測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小,來測定覆層厚度。也可以測定與之對應(yīng)的磁阻的大小,來表示其覆層厚度。
特點:
1、能夠測量無鉛焊錫;
2、搭載中心搜索軟件;
3、擁有防沖功能;
4、搭載激光對焦系統(tǒng);
5、搭載測試報告自動生成軟件;
6、擁有自動測量軟件以及中心搜索軟件;
7、配備了薄膜FP法,可以同時測量Sn-Ag,Sn-Bi,Sn-Cu等,無鉛焊錫的鍍層后與成份;
8、通過掃描樣品可以自動檢測出線及基板點面部分的測量中心位置。
    此外我公司銷售的產(chǎn)品還有測速儀,色差儀等等,歡迎咨詢!產(chǎn)品的優(yōu)異性能、服務(wù)的善美是我們永無止境的追求,請老新客戶放心選購自己心儀產(chǎn)品。
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